Flamix Bitrix24 Integration: Upgrade your PHP version. Minimum version - 7.2+. Your PHP version 5.6.30! If you don't know how to upgrade PHP version, just ask in your hosting provider! If you can't upgrade - delete this plugin!

База кодов ГОСТ | ЕвроНорма | ЕВРОНОРМА - сертификация автомобилей
  • Евростандарты автомобилей

  • База кодов ГОСТ

    Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАПолупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 → Диоды

    31.080.10. Диоды

    1 2 3 4 5

    • ГОСТ 14343-69.
      отменён
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые типов Д223, Д223А, Д223Б для устройств широкого применения
      Semiconductors diodes types of Д 223, Д 223a, Д 223Б for widely used devices

    • ГОСТ 15606-70.
      отменён
      от: 01.08.2013
      Диоды туннельные типов АИ301А, АИ301Б, АИ301В, АИ301 Г для устройств широкого применения
      Tunnel diodes. Types aИ301a, aИ301, aИ301b, aИ301Г for widely used devices

    • ГОСТ 17465-80.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Основные параметры
      Semiconductor diodes. Basic parameters
      Настоящий стандарт распространяется на вновь разрабатываемые и модернизируемые полупроводниковые диоды, выпрямительные (кроме диодов Шоттки), импульсные, стабилитроны (стабисторы), варикапы, диоды СВЧ, выпрямительные столбы и импульсные диодные матрицы (сборки)
    • ГОСТ 18986.0-74.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения
      Semiconductor diodes. Measuring methods for electrical parameters. General requirements
      Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды: выпрямительные, универсальные, испульсные, туннельные, варикапы, стабилизаторы, генераторы шума и диоды СВЧ ( в части низкочастотных и статических параметров) и устанавливает общие требования для методов измерения электрических параметров
    • ГОСТ 18986.1-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока
      Semiconductor diodes. Method for measuring direct reverse current
      Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения постоянного обратного тока.
      Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
    • ГОСТ 18986.3-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
      Semiconductor diodes. Method of measuring of direct forward voltage and direct forward current
      Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока.
      Стандарт не распространяется на выпрямительные блоки
    • ГОСТ 18986.4-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Методы измерения емкости
      Semiconductor diodes. Methods for measuring capacitance
      Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения общей емкости диода: метод емкостно-омического делителя; мостовой метод; частотный метод
    • ГОСТ 18986.5-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени выключения
      Semiconductor diodes. Method for measuring transition time
      Настоящий стандарт распространяется на импульсные диоды и умножительные СВЧ диоды и устанавливает метод измерения времени выключения
    • ГОСТ 18986.6-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Метод измерения заряда восстановления
      Semiconductor diodes. Method for measuring recovery charge
      Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды, а также на переключательные диоды диапазона СВЧ, у которых накопленный заряд может быть принят равным заряду восстановления и устанавливает метод измерения заряда восстановления
    • ГОСТ 18986.7-73.
      действующий
      от: 01.08.2013
      Диоды полупроводниковые. Методы измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда
      Semiconductor diodes. Methods for measuring life time
      Настоящий стандарт распространяется на импульсные, смесительные и умножительные диоды СВЧ.
      Стандарт устанавливает два метода измерения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда: для импульсных и смесительных диодов СВЧ; для импульсных диодов с накоплением заряда и умножительных диодов СВЧ

    1 2 3 4 5

    Сертификация авто

  • Технические регламенты

  • Документация

  • Справочная информация