База кодов ГОСТ Общероссийский классификатор стандартов → ЭЛЕКТРОНИКА → Полупроводниковые приборы *Полупроводниковые материалы см. 29.045 → Диоды
31.080.10. Диоды ← 1 2 3 4 5 →
Название: Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring reverse recovery time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые импульсные и выпрямительные диоды и устанавливает метод измерения времени обратного восстановленияНазвание: Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления Название (англ): Semiconductor diodes. Method for measuring pulse direct voltage and forword recovery time Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановленияНазвание: Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring inductance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на все типы полупроводниковых диодов в корпусе, у которых индуктивность более 0,1 нГн. Стандарт устанавливает два метода измерения индуктивности диодов:
Название: Диоды полупроводниковые. Методы измерения последовательного сопротивления потерь Название (англ): Semiconductor diodes. Total series equivalent resistance measurement methods Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы и туннельные диоды и устанавливает два метода измерения последовательного сопротивления потерь:
Название: Диоды полупроводниковые туннельные. Метод измерения отрицательной проводимости перехода Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Method for measuring negative conductance of the intrinsic diode Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения отрицательной проводимостиНазвание: Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора Название (англ): Semiconductor tunnel diodes. Methods for measuring peak point current, valley point current, peak point voltage, valley point voltage, projected peak point voltage Назначение: Настоящий стандарт распространяется на туннельные полупроводниковые диоды и устанавливает методы измерения параметров вольтамперной характеристики диода: пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствораНазвание: Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений Название (англ): Semiconductor diodes. Methods for measuring differential and slope resistances Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает следующие методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений: метод замещения; резонансный метод с параллельным контуром; резонансный метод с последовательным контуром; мостовой метод.
Название: Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока Название (англ): Rectifier diodes. Methods of measuring average forward voltage and average reverse current Назначение: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые выпрямительные диоды малой и средней мощности, полупроводниковые выпрямительные столбы и устанавливает метод измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного токаНазвание: Варикапы. Метод измерения температурного коэффициента емкости Название (англ): Variable capacitance diodes. Method of measuring temperature coefficient of capacitance Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы, предназначенные для работы в диапазоне частот 0,25-1000 Гц, и устанавливает метод измерения температурного коэффициента емкостиНазвание: Варикапы. Метод измерения добротности Название (англ): Variable capacitance diodes. Method for measuring the quality factor Назначение: Настоящий стандарт распространяется на варикапы емкостью более 4 пФ в диапазоне частот 0,25-1000 МГц и устанавливает два метода измерения добротности варикапов
← 1 2 3 4 5 →
Previous post: База кодов ТНВЭД Поиск по базе ОКУН